吉时利4200-SCS半导体特性分析系统用于器件、材料和半导体工艺参数的分析，该分析系统采用了模块化、可配置、可升级的架构，这使得它能够准确满足当前的测量需求，也可以模块扩展以满足后续的需求。这种先进的参数分析仪具有无可比拟的测量灵敏度和精度，同时继承了嵌入Windows操作系统和吉时利交互式测试环境，无需编程即可支持几乎所有类型的特性分析，可以直观地对半导体器件特性进行分析。